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Steuerbare Decoderschaltungen

IP.com Disclosure Number: IPCOM000016823D
Published in the IP.com Journal: Volume 3 Issue 8 (2003-08-25)
Included in the Prior Art Database: 2003-Aug-25
Document File: 2 page(s) / 74K

Publishing Venue

Siemens

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Abstract

Speicherbausteine (Chips) koennen in verschiedene Organisationen unterschieden werden. Die Organisation gibt an, wie viele Dateneingaenge und Datenausgaenge (IO-Pins, In-Out-Pins) verfuegbar sind. Haeufig werden die Organisationen x4, x8 und x16 verwendet, also vier, acht und sechszehn IO-Pins. Die Kosten, die beim Testen der Chips anfallen, sind abhaengig von der Testzeit der Chips, wobei die Testzeit bei gleicher Speichergroesse ihrerseits von der Organisation abhaengt. Da alle IO-Pins parallel getestet werden, ergibt sich bei x16 die geringste und bei x4 die groesste Testzeit. Durch spezielle Test-Modes (TMs) beim Testen von Chips lassen sich diese intern als Ordnung x16 betreiben, wodurch moeglich ist, Chips aller Ordnungen mit gleichen Testzeiten bzw. -kosten zu testen. Werden alle Chips intern mit der gleichen Organisation betrieben, so ergibt sich daraus jedoch der Nachteil, dass Decoderschaltungen nicht mit allen Schaltmoeglichkeiten getestet werden, die fuer den Normalbetrieb gebraucht werden. So werden beispielsweise bei einem im Normalbetrieb x4-Chip, der intern als x16 betrieben wird, in diesen Tests nicht alle Decoderschaltungen angesprochen.

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S

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Steuerbare Decoderschaltungen

Idea: Erwin Thalmann, DE-Muenchen

Speicherbausteine (Chips) koennen in verschiedene Organisationen unterschieden werden. Die Organisation gibt an, wie viele Dateneingaenge und Datenausgaenge (IO-Pins, In-Out-Pins) verfuegbar sind. Haeufig werden die Organisationen x4, x8 und x16 verwendet, also vier, acht und sechszehn IO-Pins. Die Kosten, die beim Testen der Chips anfallen, sind abhaengig von der Testzeit der Chips, wobei die Testzeit bei gleicher Speichergroesse ihrerseits von der Organisation abhaengt. Da alle IO-Pins parallel getestet werden, ergibt sich bei x16 die geringste und bei x4 die groesste Testzeit.

Durch spezielle Test-Modes (TMs) beim Testen von Chips lassen sich diese intern als Ordnung x16 betreiben, wodurch moeglich ist, Chips aller Ordnungen mit gleichen Testzeiten bzw. -kosten zu testen. Werden alle Chips intern mit der gleichen Organisation betrieben, so ergibt sich daraus jedoch der Nachteil, dass Decoderschaltungen nicht mit allen Schaltmoeglichkeiten getestet werden, die fuer den Normalbetrieb gebraucht werden. So werden beispielsweise bei einem im Normalbetrieb x4-Chip, der intern als x16 betrieben wird, in diesen Tests nicht alle Decoderschaltungen angesprochen.

Mit dem im folgenden dargestellten Vorschlag wird die Moeglichkeit geschaffen, ausgeschlossene Schaltzustaende wieder anzusprechen, obwohl die Bausteine intern als x16 betrieben werden. Die Idee dabei ist, dass ein Schaltungsteil, der Decoder, so erweitert wird, dass auf fehlende Auswahlmoeglichkeiten (Adressen) zugegriffen werden kann. Die Funktion der gesamten Schaltung wird dabei nicht veraendert, der Ausgangszustand bleibt eine Funktion der Eingangsadressen, Ausgangszustand = f(Eingangsadressen).

Die Erweiterung der Decoderschaltungen geschieht durch Hinzufuegen von Scrambler- und Descrambler-Schaltungen. Eine Scrambler-Schaltung hat dabei die Funktion, die Eingangssignale des Decoders zu veraendern. Es werden zusaetzliche Adressen generiert (Aendern von Eingangzustaenden), damit andere Ausgangszustaende angesprochen werden koennen. Diese Schaltung ist vor dem Decoder angeordnet. Der nach dem Decoder platzierte Descrambler hat die Funktion, das Signal so zurueckzuverwandeln, dass es wieder der urspruenglichen Auswahl entspricht. Es werden also Adressleitungen, die fuer die Auswahl des Ausgangs verantwortlich sind, vor dem Decoder durch den Scrambler veraendert und nach dem Decoder vom Descrambler in die urspruengliche Form gebracht.

Das Abb. 1 sym...