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Konzept zum Testen von gehäusten Ics

IP.com Disclosure Number: IPCOM000017801D
Original Publication Date: 2001-Oct-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23
Document File: 1 page(s) / 236K

Publishing Venue

Siemens

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Uta Gebauer: AUTHOR [+2]

Abstract

Gehäuste ICs (Integrated Circuits) werden bislang zwischen dem letzten Vollfunktionstest und der ei- gentlichen Bestückung keinem Kurztest mehr unter- zogen. Die Bauteile werden gleich direkt bestückt.

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Bauelemente

Konzept zum Testen von gehäustenIcs

Idee: Uta Gebauer, Regensburg;

Dr. Harry Hedler, Regensburg

Gehäuste  ICs  (Integrated  Circuits)  werden  bislangzwischen dem letzten Vollfunktionstest und der ei-gentlichen Bestückung keinem Kurztest mehr unter-zogen. Die Bauteile werden gleich direkt bestückt.

Nun kann es bei der Handhabung von gehäusten ICszu Schäden  kommen.  Durch  einen  einfachen  Kon-takttest können Fehler nochmals detektiert und aus-sortiert werden, bevor die Bestückung auf das Sub-strat erfolgt.

Dabei werden die Bauteile mit den Anschlußelemen-ten auf eine entsprechende Testvorrichtung aufgesetztoder gedrückt (Abb. 1). Damit kann der Test durch-geführt werden, bei dem lediglich überprüft wird, obdie elektrischen  Anbindungen  noch  funktionsfähigsind  oder  ob  die  Anschlußelemente  noch  auf  denvorgesehenen Positionen sind.

Für diesen Vorgang werden die Bauteile aufgenom-men und dann kurz auf die Testvorrichtung aufge-setzt, wobei die Bauteile weiterhin von dem Bestück-kopf fixiert werden. Sobald der Test abgeschlossenist, werden die Bauteile entweder auf den vorgesehe-nen Einbauplatz gesetzt oder bei einem negativ ver-laufenen Test aussortiert.

Der Test kann einerseits elektrisch durchgeführt wer-den, der den elektrischen Durchgang der Anschluße-lemente prüft, sobald die Kontaktelemente den Test-sockel  berühren.  Andererseits  kann  der  Test übereinen mechanischen Testsockel erfolgen, dessenAnschlußelementtestplätze auf...