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Hochtemperatur Prüfkarte für Mehrfachmessung und Hochspannung

IP.com Disclosure Number: IPCOM000018024D
Original Publication Date: 2001-Dec-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23
Document File: 1 page(s) / 154K

Publishing Venue

Siemens

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Werner Salzmann: AUTHOR [+2]

Abstract

Zur Überprüfung der Zuverlässigkeit von isolated gate bipolar transsitor (IGBT) und Leistungstran- sistor (LTR) Produkten werden die betreffenden Bauteile einem sog. Stresstest unterzogen. Um die Feedbackschleife bei etwaigen Problemen zu verkür- zen, wird dieser Test bereits auf Wafer-Ebene durch- geführt. Der Test wird in Form einer Hochtempera- tur-Sperrlagerung des Wafers vollzogen. Die Bedin- gungen denen der der Wafer während des Tests un- terliegt, sind eine Temperatur von 200°C, eine Dau- erbelastung von 1 Ampere und eine Spannung von 1250 Volt. Der Test wird an z.B. 8 oder 16 der oben genannten Bauteile zugleich ausgeführt.

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Industrie

Hochtemperatur Prüfkarte fürMehrfachmessung und Hochspan-nung

Idee: Werner Salzmann, A-Villach;

Lambert Windhagauer, A-Villach

Zur Überprüfung  der  Zuverlässigkeit  von  isolatedgate  bipolar  transsitor   (IGBT)  und  Leistungstran-sistor   (LTR)  Produkten  werden die betreffendenBauteile  einem  sog.  Stresstest  unterzogen. Um dieFeedbackschleife bei etwaigen Problemen zu verkür-zen, wird dieser Test bereits auf Wafer-Ebene durch-geführt. Der Test wird in Form einer Hochtempera-tur-Sperrlagerung des Wafers vollzogen. Die Bedin-gungen denen der der Wafer während des Tests un-terliegt, sind eine Temperatur von 200°C, eine Dau-erbelastung von 1 Ampere und eine Spannung von1250 Volt. Der Test wird an z.B. 8 oder 16 der obengenannten Bauteile zugleich ausgeführt.

Für diesen Test ist es erforderlich, eine Prüfkarte zuverwenden, welche die genannten Stressbelastungendauerhaft ohne Einbussen in der Funktion verträgt.Um dies zu gewährleisten, wurde eigens eine Prüf-karte entwickelt. Die Prüfkarte setzt sich aus folgen-den Bauteilen zusammen:

•   Trägerplatte aus rostfreiem Stahl (z.B. V2A)

•   Federkontaktstiftblock  aus  Keramik  (oder Al-Titanat bzw. Macor)

•   Hochtemperaturtaugliche  Federkontaktstifte mitdazugehörigen Hülsen

•   Platine 48-polig in einem typenspezifischenLayout

•   2 Einstellhilfen (Hülsen mit Fadenkreuz)

•   div. Kleinteile für die Montage der Prüfkarte

Der Prüfkarte integriert sind ein Kühlsystem und e...