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Digitaler Funktionstest mit paralleler, rekonfigurierbarer Logik im lowcost-Bereich

IP.com Disclosure Number: IPCOM000018232D
Original Publication Date: 2002-Apr-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23
Document File: 1 page(s) / 252K

Publishing Venue

Siemens

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Ralph Friedrich: AUTHOR

Abstract

Für digitale Funktionstests von elektronischen Schaltungen gibt es bisher folgende Lösungsansätze:

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Bauelemente

Digitaler Funktionstest mit paral-leler, rekonfigurierbarer Logik imlowcost-Bereich

Idee: Ralph Friedrich, Erlangen

Für digitale Funktionstests von elektronischenSchaltungen gibt es bisher folgende Lösungsansätze:

•   Vektortests  (anlegen  und  abfragen  von Test-vektoren)

•   Nachbildung der Schnittstellen über Hardware-komponenten

Für Vektortests wird eine Hardware mit teurer Pin-elektronik benötigt, bei der bei steigender Frequenzund Komplexität der Aufwand überproportionalansteigt. Die (kostengünstige) Hardware aus vielfäl-tigen Komponenten für den zweiten Lösungsansatzhat Nachteile wie schlechte Verfügbarkeit, schlechteVerträglichkeit der Komponenten und schlechteHochfrequenzeigenschaften durch lange Leitungen.

Es wird  eine  Testunit  vorgeschlagen,  die  mehrere(preisgünstige) rekonfigurierbare Standard-FPGAs(Field Programmable Gate Arrays) parallel verwen-det,  wobei  die  jeweils  erforderliche Konfigurationwährend  der  Prüfung geladen  bzw.  erstellt  wird.Dadurch können zwei oder mehrere Hardwarekonfi-gurationen gleichzeitig aktiv sein (z.B. Bus-Emulation für PCI und Frequenzmessung). Die spe-zifischen FPGA Eigenschaften (z.B. programmierba-re Pullups  und  Pulldowns  für  Kontakttests,  pro-grammierbare Abschlusswiderstände für hohe Takt-frequenzen  durch  Impedanzanpassung)  können zurPrüfung genutzt werden. Das Laden der Konfigurati-onsdaten  vom  PC  erfolgt  ohne  weitere integrierteSchaltkreise, wobei die Anbindung an den PC überdie  PCI-Schnittstelle  hohe  Datenraten  ermöglicht.Die B...