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Simplified Extraction Methods for Supply Net Analysis

IP.com Disclosure Number: IPCOM000103547D
Original Publication Date: 2005-Apr-16
Included in the Prior Art Database: 2005-Apr-16
Document File: 2 page(s) / 100K

Publishing Venue

Siemens

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Abstract

Eine neuartige Extraktionsmethode vereinfacht die Komplexitaet des Problems der Extraktion bei Maskenlayouts von elektronischen Schaltungen derart, dass die Durchlaufzeit verringert werden kann. Bislang wird das Layout in seiner Gesamtheit extrahiert. Das bedeutet, dass alle Netze und Devices mit extrahiert werden, die jedoch fuer die Analyse nicht notwendig sind. Die neue Methode reduziert die Komplexitaet des Layouts vor der eigentlichen Extraktion auf die Elemente, die fuer die spaetere Analyse relevant sind. Dadurch wird einerseits der Aufwand und somit die Laufzeit fuer die Extraktion reduziert und andererseits die Groesse der Datei, die die resultierenden parasitaeren Elemente (R, C) enthaelt, reduziert. Die kleinere Parasitendatei beschleunigt dann die eigentliche IR-Drop Analyse (IR-Spannungsabfall). Dabei beruht der Kern dieser Methode auf der Idee, dass alle Base-Layer im Layout (d.h. alle Layer unterhalb von MetaIO) fuer die IR-Drop Analyse irrelevant sind und dass alle Devices (hier: Transistoren) nicht als solche extrahiert werden muessen, da sie letztendlich immer ueber einen Diffusionskontakt mit dem Versorgungsnetz verbunden sind und sie daher fuer IR-Drop Analysen auf den CD-Kontakt (Contact-to-Diffusion) reduziert werden duerfen.

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S

Simplified Extraction Methods for Supply Net Analysis

Idee: Joerg Schweden, DE-Muenchen

Eine neuartige Extraktionsmethode vereinfacht die Komplexitaet des Problems der Extraktion bei Maskenlayouts von elektronischen Schaltungen derart, dass die Durchlaufzeit verringert werden kann. Bislang wird das Layout in seiner Gesamtheit extrahiert. Das bedeutet, dass alle Netze und Devices mit extrahiert werden, die jedoch fuer die Analyse nicht notwendig sind.

Die neue Methode reduziert die Komplexitaet des Layouts vor der eigentlichen Extraktion auf die Elemente, die fuer die spaetere Analyse relevant sind. Dadurch wird einerseits der Aufwand und somit die Laufzeit fuer die Extraktion reduziert und andererseits die Groesse der Datei, die die resultierenden parasitaeren Elemente (R, C) enthaelt, reduziert. Die kleinere Parasitendatei beschleunigt dann die eigentliche IR-Drop Analyse (IR-Spannungsabfall). Dabei beruht der Kern dieser Methode auf der Idee, dass alle Base-Layer im Layout (d.h. alle Layer unterhalb von MetaIO) fuer die IR-Drop Analyse irrelevant sind und dass alle Devices (hier: Transistoren) nicht als solche extrahiert werden muessen, da sie letztendlich immer ueber einen Diffusionskontakt mit dem Versorgungsnetz verbunden sind und sie daher fuer IR-Drop Analysen auf den CD-Kontakt (Contact- to-Diffusion) reduziert werden duerfen.

Da Devices im Layout Gebilde darstellen, die aus vielen Layern zusammengesetzt sind, werden sie nur mit sehr grossem Rechenaufwa...