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Laserinduzierte Ruecklichtmethode fuer Flachdetektoren

IP.com Disclosure Number: IPCOM000125658D
Original Publication Date: 2005-Jul-10
Included in the Prior Art Database: 2005-Jul-10
Document File: 2 page(s) / 205K

Publishing Venue

Siemens

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Abstract

Flachdetektoren aus amorphem Silizium haben die Eigenschaft, dass freie Valenzen in der Halbleiterschicht Ladungen zum Teil zeitverzoegert freigegeben. Diese freigesetzten Ladungstraeger aus den Haftstellen im amorphen Silizium (a-Si) liefern zeitabhaengige Stroeme und entladen die Fotokapazitaet. Da die Emissionsdauer aus den Haftstellen laenger als die Aufnahmezeit fuer mehrere Bilder dauern kann, ist die Vorgeschichte des aktuellen Bildes nicht vernachlaessigbar. Eine Massnahme zur Reduktion der zeitabhaengigen Signalanteile aus vorhergehenden Belichtungsphasen stellt die Verwendung eines definierten Lichtimpulses durch das Ruecklicht-Array zu Beginn der Ruecksetzphase dar. Die in der Praxis verwendeten Ruecklichtplatinen (Backlights) befinden sich direkt unter dem a-Si-Plate (siehe Abb. 1). Dabei besteht das Problem, dass die verwendeten Dioden (LEDs - Light Emitting Diode) aus verschiedenen Herstellerchargen kommen koennen und eine unterschiedliche Leistungsintensitaet aufweisen. Ausserdem koennen einzelne LEDs ausfallen und somit ist ein effektives Ruecksetzen der freien Valenzen nicht mehr gegeben. Die verwendete Schaltung der LEDs in Gruppen zu je acht LEDs spiegelt sich in Strukturen in Bildern mit hohen Ruecklichtsignalen wider. Ferner wirkt sich die hohe Bauhoehe eines solchen Ruecklicht-Arrays von bis zu 10 mm sehr unguenstig auf die Gesamtbauhoehe eines Flachdetektors aus.

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Laserinduzierte Ruecklichtmethode fuer Flachdetektoren

Idee: Mathias Hoernig, DE-Forchheim

Flachdetektoren aus amorphem Silizium haben die Eigenschaft, dass freie Valenzen in der Halbleiterschicht Ladungen zum Teil zeitverzoegert freigegeben. Diese freigesetzten Ladungstraeger aus den Haftstellen im amorphen Silizium (a-Si) liefern zeitabhaengige Stroeme und entladen die Fotokapazitaet. Da die Emissionsdauer aus den Haftstellen laenger als die Aufnahmezeit fuer mehrere Bilder dauern kann, ist die Vorgeschichte des aktuellen Bildes nicht vernachlaessigbar. Eine Massnahme zur Reduktion der zeitabhaengigen Signalanteile aus vorhergehenden Belichtungsphasen stellt die Verwendung eines definierten Lichtimpulses durch das Ruecklicht-Array zu Beginn der Ruecksetzphase dar. Die in der Praxis verwendeten Ruecklichtplatinen (Backlights) befinden sich direkt unter dem a-Si-Plate (siehe Abb. 1). Dabei besteht das Problem, dass die verwendeten Dioden (LEDs - Light Emitting Diode) aus verschiedenen Herstellerchargen kommen koennen und eine unterschiedliche Leistungsintensitaet aufweisen. Ausserdem koennen einzelne LEDs ausfallen und somit ist ein effektives Ruecksetzen der freien Valenzen nicht mehr gegeben. Die verwendete Schaltung der LEDs in Gruppen zu je acht LEDs spiegelt sich in Strukturen in Bildern mit hohen Ruecklichtsignalen wider. Ferner wirkt sich die hohe Bauhoehe eines solchen Ruecklicht- Arrays von bis zu 10 mm sehr unguenstig auf die Gesamtbauhoehe eines Flachdetektors aus.

Zur Loesung dieses Problems wird d...