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Kundengesteuerte Chipreparatur

IP.com Disclosure Number: IPCOM000127666D
Original Publication Date: 2005-Oct-10
Included in the Prior Art Database: 2005-Oct-10
Document File: 1 page(s) / 20K

Publishing Venue

Siemens

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Abstract

Eine in einem Halbleiterspeichermodul gespeicherte Information kann bei Verwendung redundanter Speicherelemente auf dem Modul durch den Speicher-Controller auf seine Richtigkeit ueberprueft werden, beispielsweise mittels eines Paritaetsbits. Des Weiteren sind auch ECC-Algorithmen (ECC, Error Correction) im Einsatz, die neben der Feststellung eines fehlerhaften Bits auch eine Korrektur des ausgelesenen fehlerhaften Speicherbits ermoeglichen. Diese Korrektur ist jedoch nur fuer eine begrenzte Anzahl von Bits pro Datenwort moeglich, d.h. bei einem typischerweise 64 Bit umfassenden Datenwort 1 Bit fuer die Korrektur. Die Ursachen fuer fehlerhaft ausgelesene Speicherzellen koennen unterschiedlich sein. So koennen beispielsweise einzelne Zellen durch Alphastrahlung, sog. Soft-Error, aber auch Reihen oder Spalten eines Speicherbausteins durch Degradationseffekte erst in der Anwenderapplikation z.B. durch Fehlfunktionen auffaellig werden. Eine weitere Moeglichkeit ist, dass die Anwenderapplikation nicht optimal durch die Tests vor Auslieferung abgedeckt sind, so dass Zellen, Reihen oder Spalten eines Speicherbausteins ausfallen koennen.

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S

Kundengesteuerte Chipreparatur

Idee: Manfred Proell, DE-Muenchen; Ralf Schneider, DE-Muenchen

Eine in einem Halbleiterspeichermodul gespeicherte Information kann bei Verwendung redundanter Speicherelemente auf dem Modul durch den Speicher-Controller auf seine Richtigkeit ueberprueft werden, beispielsweise mittels eines Paritaetsbits. Des Weiteren sind auch ECC-Algorithmen (ECC, Error Correction) im Einsatz, die neben der Feststellung eines fehlerhaften Bits auch eine Korrektur des ausgelesenen fehlerhaften Speicherbits ermoeglichen. Diese Korrektur ist jedoch nur fuer eine begrenzte Anzahl von Bits pro Datenwort moeglich, d.h. bei einem typischerweise 64 Bit umfassenden Datenwort 1 Bit fuer die Korrektur.

Die Ursachen fuer fehlerhaft ausgelesene Speicherzellen koennen unterschiedlich sein. So koennen beispielsweise einzelne Zellen durch Alphastrahlung, sog. Soft-Error, aber auch Reihen oder Spalten eines Speicherbausteins durch Degradationseffekte erst in der Anwenderapplikation z.B. durch Fehlfunktionen auffaellig werden. Eine weitere Moeglichkeit ist, dass die Anwenderapplikation nicht optimal durch die Tests vor Auslieferung abgedeckt sind, so dass Zellen, Reihen oder Spalten eines Speicherbausteins ausfallen koennen.

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