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Steuerbare Decoderschaltungen

IP.com Disclosure Number: IPCOM000016823D
Original Publication Date: 2003-Aug-25
Included in the Prior Art Database: 2003-Aug-25

Publishing Venue

Siemens

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Abstract

Speicherbausteine (Chips) koennen in verschiedene Organisationen unterschieden werden. Die Organisation gibt an, wie viele Dateneingaenge und Datenausgaenge (IO-Pins, In-Out-Pins) verfuegbar sind. Haeufig werden die Organisationen x4, x8 und x16 verwendet, also vier, acht und sechszehn IO-Pins. Die Kosten, die beim Testen der Chips anfallen, sind abhaengig von der Testzeit der Chips, wobei die Testzeit bei gleicher Speichergroesse ihrerseits von der Organisation abhaengt. Da alle IO-Pins parallel getestet werden, ergibt sich bei x16 die geringste und bei x4 die groesste Testzeit. Durch spezielle Test-Modes (TMs) beim Testen von Chips lassen sich diese intern als Ordnung x16 betreiben, wodurch moeglich ist, Chips aller Ordnungen mit gleichen Testzeiten bzw. -kosten zu testen. Werden alle Chips intern mit der gleichen Organisation betrieben, so ergibt sich daraus jedoch der Nachteil, dass Decoderschaltungen nicht mit allen Schaltmoeglichkeiten getestet werden, die fuer den Normalbetrieb gebraucht werden. So werden beispielsweise bei einem im Normalbetrieb x4-Chip, der intern als x16 betrieben wird, in diesen Tests nicht alle Decoderschaltungen angesprochen.