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Erzeugung eines Jitters auf einem Datensignal unter Ausnutzung der Laufzeiten eines PALs

IP.com Disclosure Number: IPCOM000017187D
Original Publication Date: 2000-Jan-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-22

Publishing Venue

Siemens

Related People

Authors:
Walter Rokitansky [+details]

Abstract

Zum Funktionstests von ASICs ( A pplication S pecific I ntegrated C ircuit) benötigt man zur Überprüfung der Phasenanpassung der Dateneingänge ein Test-Datensignal mit einstellbarem Jitter. Die Erzeugung des benötigten Signals setzt aufwendiges Gerät voraus, das nicht immer verfügbar ist. Es wird daher vorgeschlagen, das benötigte Signal derart zu erzeugen, daß ein bestehendes ATM-Datensignal (Data In) mehrfach einen PAL ( P rogrammable A rray L ogic) durchläuft (vgl. Fig. 1). Dadurch entstehen an den Ausgängen des PALs mehrere, zueinander zeitversetzte aber sonst identische Signale. Mit Hilfe eines im PAL integrierten Multiplexers kann zwischen den Signalen hin- und hergeschaltet werden. Das Ausgangssignal (in den Figuren Signale A – C) kann derart beeinflußt werden, daß die steigende und die fallende Flanke des Datensignals einzeln oder gleichzeitig um 0, 3, 6, 9, 12, 15 ns verschoben wird (vgl. Fig. 2).