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Durchlichtverfahren für das Visionsytem eines SMD -Bestückautomaten

IP.com Disclosure Number: IPCOM000017573D
Original Publication Date: 2001-Apr-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23

Publishing Venue

Siemens

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Authors:
Mathias Hedrich [+details]

Abstract

Das hier vorgestellte Verfahren bezieht sich auf SMD-Bestückautomaten, spezieller auf die Einrichtung eines solchen Automaten, welche die laterale Lage des Bauelementes vermisst bzw. die Anwesenheit von Anschlüssen überprüft (Visionsystem). Das Visionsystem benötigt zur Lagevermessung bzw. zur Inspektion ein Bild, das die wesentlichen Merkmale des Bauelemente abbildet. Bei einem im Auflicht betrachtenden Bauelement werden zwar grundsätzlich alle wesentlichen Merkmale abgebildet. Die Auflichtabbildung ist jedoch unmittelbar abhängig von den optischen Eigenschaften der Bauelemente (Oberflächengeometrie, Körperfarbe, Anteile von spiegelnder und diffuser Reflexion, Reflexionsfaktoren usw.). Da diese über einen weiten Bereich schwanken können, ist es notwendig die Beleuchtungsintensitäten anzupassen. Diese aufwendigen Anpassungen können umgangen werden, wenn nur der Umriss eines Bauelementes abgebildet wird (Durchlicht). Nicht bei allen Bauteilen werden aber auf die Weise die wesentlichen Merkmale visualisiert.