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Schaltungsanordnung zur Reduzierung des Energiebedarfs bei repitierenden Tests

IP.com Disclosure Number: IPCOM000017684D
Original Publication Date: 2001-Jul-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23

Publishing Venue

Siemens

Related People

Authors:
Dr. Tobias Reimann Robert Kruemmer Dr. Ilia Zverev [+details]

Abstract

Hersteller und Anwender von Leistungshalbleitern führen unterschiedliche Tests an den Bauelementen durch, um Fragen des elektrischen Verhaltens, der Zuverlässigkeit usw. zu beantworten. Beim Testen von Hochvolt-Bauelementen (MOSFET, IGBT) ist es notwendig, hohe Betriebsspannungen (z.B. > 300V) zu benutzen, um die Testbedingungen optimal an die reale Applikation anzupassen. Bei repitierenden Tests mit definiert eingeprägtem Laststrom kann dieses zu einem bedeutenden Energiebedarf in der Testschaltung führen. Zum Beispiel beträgt der Leistungsbedarf (zu beziehen aus Netzgerät V1) für einen repitierenden Avalanche-Test nach Abbildung 1 für den unten benannten typischen Beispiel-Arbeitspunkt etwa 2 kW (vorwiegend in R umgesetzt), wenn das Leistungsbauelement nach Ablauf des Avalanchevorganges eine Spannung von 400 V aufnehmen soll (Arbeitspunkt: Betriebsspannung V1=400V, abzuschaltender MOSFET-Dreieck-Peak-Strom = 20A, Avalanche-Energie pro Puls ca. 1 mJ Wiederholfrequenz ca. 50 kHz). Ein anderes Gebiet stellt die allgemeine Hochvolt-Stromversorgung dar. Dabei besteht die Aufgabe, aus einer Niedervolt-DC-Quelle, z.B. einer Batterie, eine höhere DC Spannung kleiner Leistung zu erzeugen.