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Effiziente Wiederherstellung der Funktion komplexer ASICs nach der Fehlerlokalisierung mittels BIST auf Rechnerbaugruppen, die Hot Standby betrieben werden

IP.com Disclosure Number: IPCOM000017761D
Original Publication Date: 2001-Jul-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23

Publishing Venue

Siemens

Related People

Authors:
Uwe Strohmeier [+details]

Abstract

Die Idee ist die Verknüpfung des Sicherns und Ladens interner Register komplexer ASICs (Application Specific Integrated Circuit) mit der Fehlerlokalisierung durch BIST (Built In Self Test) bei der Fehlerlokalisierung von Rechnerbaugruppen, die Hot Standby betrieben werden. Wenn zwischen zwei im Hot Standby betriebenen Baugruppen ein Vergleicherfehler festgestellt wird, muß innerhalb eines vorgegebenen Zeitlimits möglichst genau der Fehler ermittelt werden. Bei komplexen ASICs bietet sich zur Fehlerlokalisierung der BIST an. Dieser bietet gegenüber einer durch Software gesteuerten Diagnose eine wesentliche höhere Testabdeckung verbunden mit dem Vorteil einer kürzeren Laufzeit.