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Konzept zum Testen von gehäusten Ics

IP.com Disclosure Number: IPCOM000017801D
Original Publication Date: 2001-Oct-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23

Publishing Venue

Siemens

Related People

Authors:
Uta Gebauer Dr. Harry Hedler [+details]

Abstract

Gehäuste ICs (Integrated Circuits) werden bislang zwischen dem letzten Vollfunktionstest und der ei- gentlichen Bestückung keinem Kurztest mehr unter- zogen. Die Bauteile werden gleich direkt bestückt. Nun kann es bei der Handhabung von gehäusten ICs zu Schäden kommen. Durch einen einfachen Kon- takttest können Fehler nochmals detektiert und aus- sortiert werden, bevor die Bestückung auf das Sub- strat erfolgt.