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Digitaler Funktionstest mit paralleler, rekonfigurierbarer Logik im lowcost-Bereich

IP.com Disclosure Number: IPCOM000018232D
Original Publication Date: 2002-Apr-01
Included in the Prior Art Database: 2003-Jul-23

Publishing Venue

Siemens

Related People

Authors:
Ralph Friedrich [+details]

Abstract

Für digitale Funktionstests von elektronischen Schaltungen gibt es bisher folgende Lösungsansätze: [g183] Vektortests (anlegen und abfragen von Test- vektoren) [g183] Nachbildung der Schnittstellen über Hardware- komponenten Für Vektortests wird eine Hardware mit teurer Pin- elektronik benötigt, bei der bei steigender Frequenz und Komplexität der Aufwand überproportional ansteigt. Die (kostengünstige) Hardware aus vielfäl- tigen Komponenten für den zweiten Lösungsansatz hat Nachteile wie schlechte Verfügbarkeit, schlechte Verträglichkeit der Komponenten und schlechte Hochfrequenzeigenschaften durch lange Leitungen.